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新闻和创新

集成电路中的静电放电耦合——P331-2 测试仪(测试脉冲按照标准 IEC 61000-4-2)

使用 P331-2 您可以反复可靠地测量集成电路抗干扰能力。这一测量技术既可以在开发过程中、也可以在集成电路的质量检测中应用。您可以向集成电路针脚直接耦合或级间耦合所有型式的静电放电传导干扰脉冲。P331-2 特别适合高速接口的测量,例如 USB、LVDS 和以太网等。

www.langer-emv.com/en/product/stoerfestigkeit/23/p33...

Exhibitor: Langer EMV-Technik GmbH

展会组织者

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PicoLAS GmbH
展位号: 5729
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展位号: 1128