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Langer EMV-Technik GmbH

展位号: 3829

www.langer-emv.com
mail@langer-emv.de

关于我们

朗格尔电磁兼容技术有限公司(Langer EMV-Technik GmbH)是一家在电磁兼容领域(EMC)进行研究、开发、生产和培训的德国企业。
我们的电磁干扰发射和抗干扰能力测量技术以及集成电路测试系统为开发全过程提供支持,在全球范围内广受欢迎。针对开发设计者,朗格尔电磁兼容技术有限公司以其电磁兼容专有知识和测量技术展现出在组件和集成电路开发中的新视角和经济高效的工作策略。
在集成电路、设备和组件开发中,贯穿整个开发过程的电磁兼容方面个别咨询帮助减轻开发设计者解决复杂电磁兼容问题的工作量。
公司举办公共和内部的电磁兼容经验讲座,这些注重实践的讲座旨在进一步传授电磁兼容方面的研究结果和广泛知识。



展示产品

朗格尔电磁兼容技术有限公司(Langer EMV-Technik GmbH)提供针对传导干扰和辐射干扰的电磁兼容测量仪器和系统,伴随全开发过程的测试系统,以及广泛的电磁兼容专有技术。抗干扰能力和干扰发射可以有针对性地施加影响和测量。对于制造商,组件、设备和集成电路的开发过程将得以加速,开发成本降低。

  • 近场探针设计用于组件、导线、集成电路针脚范围、集成电路表面以及组件周围的高分辨率磁场、电场和电流测量。
  • 微型脉冲发生器产生极端场强的爆冲/静电放电等价脉冲场,应用于电子组件。
  • 测量系统 A100、A200 和 A300 可实现对模拟电路部分在高频、爆冲和静电放电影响下的无反作用监视。光学信号采集系统 OSE 100、OSE 150 和 OSE 400 还能确保极端干扰影响下的无反作用监视。
PA306  高达 6 GHz 的前置放大器

PA306 高达 6 GHz 的前置放大器

高达 6 GHz 的前置放大器
PA 306 用于测量信号的放大,例如针对高分辨率近场探头的弱信号。PA 306 连接在频谱分析仪或示波仪的 50 Ω 输入端,随附供货的插接电源件负责对其供电。
PA 306 用于弱测量信号的放大,例如近场探头或天线。其优异特性包括低噪声、高音量范围、适用频率范围宽
PA 306 连接在频谱分析仪或示波仪的 50 Ω 输入端上。PA 306 由插接电源件负责供电。一个近场探头通过相应的电缆连接在前置放大器的输入端上。

www.langer-emv.com//en/product/vorverstaerker/37/pa-...

朗格尔脉冲设备:集成电路耦合探头 ICI 01

朗格尔脉冲设备:集成电路耦合探头 ICI 01

将瞬时脉冲通过磁场耦合到集成电路中(开放管芯)。由此对于集成电路单个区域的抗干扰能力进行选择性测试。对于安全关键电路,可以模拟旁路通道干扰。试样具备以下特点:
- 分辨率高达 500 µm。因此可对电路中的单个部分有针对性地进行测试。
- 脉冲抖动的触发值极低。因此对于程序进程中的快速过程也能有针对性地施加影响。
操作需要一台计算机。ICI 01 的控制通过随附的 ICI 客户端软件或者通过 DLL 进行。
朗格尔脉冲设备:集成电路磁场源
ICI 01 L-EFT 是一款提供磁场源的设备,该磁场源置于测试集成电路(开放管芯)之上。设备生成迅速的瞬时脉冲(上升时间 < 2ns)。通过磁场源的测量输出端对脉冲进行监控。

www.langer-emv.com/de/product/stoerfestigkeit/23/ici...

近场微探头 MFA

近场微探头 MFA

MFA 型号的近场探针具备高分辨率(200 µm)的优异特性。使用 MFA 近场探针,您可以手动测量针脚和信号线上的高频电流(150 µm)。测量线圈(MFA-K 0.1-30 和 MFA-K 0.1-12)的形状可以确保,从侧面接触探针头的场源不会纳入探测之中。
MFA 01 套件包括三个近场探针,适用于频率范围 1 MHz 至 6 GHz。
为此需要对LVDS驱动器和接受器的引脚进行高分辨率测量。MFA-R 0.2-6近场探头能够达到测量要求的分辨率。
测量装置的构建如图1所示。通过RJ-45插口和适配线将LVDS模块连接,并使用MFA-R 0.2-6近场探头测量其引脚,如图2和图3所示。

www.langer-emv.com/en/product/mfa-aktiv-1-mhz-6-ghz/...

新闻和创新

ICS 105 GND 组套/ ICS 105 UH 组套集成电路检测器 ICS 105 同 ICR; 10µm 

ICS 105 GND 组套/ ICS 105 UH 组套集成电路检测器 ICS 105 同 ICR 型号的近场微探头组合使用,可对集成电路(ICS 105 GND 组套)和小型组件(ICS 105 UH 组套)进行高频近场测量。通过对集成电路的近场分析,能够在高频环境下对集成电路的内部过程有准确了解。集成电路的干扰发射问题将通过测量予以分析,找出集成电路中产生干扰发射的部位。图 1 近场微探头 ICRHH 150-27 是一款带有水平测量线圈的探头,用于磁场测量。测量分辨率为 50 µm,测量范围为 1.5 GHz 至 6 GHz。除了朗格尔电磁兼容技术有限公司的 ICR...| » 阅读更多的内容 


集成电路中的静电放电耦合——P331-2 测试仪(测试脉冲按照标准 IEC 61000-4-2) 

使用 P331-2 您可以反复可靠地测量集成电路抗干扰能力。这一测量技术既可以在开发过程中、也可以在集成电路的质量检测中应用。您可以向集成电路针脚直接耦合或级间耦合所有型式的静电放电传导干扰脉冲。P331-2 特别适合高速接口的测量,例如 USB、LVDS 和以太网等。 | » 阅读更多的内容 


P11发生束状磁场;P12发生涡流磁场;P21发生干扰电场。 

迷你脉冲发生器是结构特别小巧的脉冲发生器。它们用于在电子元件开发过程中的干扰排除。发生器顶端生成爆冲和静电放电干扰场。干扰场限定在数平方毫米的范围内。所产生的干扰脉冲场符合电子元件在实际情况中遭受的爆冲和静电放电干扰场。手持式迷你脉冲发生器使用时将其负责干扰场发送的顶部贴近待测元件的上方(例如印刷线路板)。此时,薄弱点对脉冲场作出反应,触发功能故障。在待测元件中可以在单个段落有针对性地查找电路板设计中的薄弱点(例如接地系统、单个线路条或集成电路针脚中的错误)。通过磁场耦合(P11)和电场耦合(P21)的分离,可实现在薄弱位置 EMC 对应措施的优化匹配。使用灵敏度测试器(P12)可对集...| » 阅读更多的内容 


联系方式

地址
Langer EMV-Technik GmbH
Noethnitzer Hang 31
01728 Bannewitz
Germany

电话: +49 351 430093-0
传真: +49 351 430093-22

Peter Michak
Head of Sales
电话: +49 351 430093-23
michak@langer-emv.de

代表
Compliance Direction International Ltd.
地址:江苏省南京江宁区将军大道6号J6创意园10栋
211111 Nanjing
P.R. China

电话: +86 25 580754078
传真: +86 25 58075428

info@emcdir.com
www.emcdir.com

Compliance Direction International Ltd.
深圳市南山区深南大道国际市长交流中心2108室
518053 Shenzhen
P.R. China

电话: +86 755 861012867
传真: +86 755 86101206

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